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X射线应力测定仪原理及应用

[导读]X射线应力测定仪原理及应用

X射线应力测定仪依据中华人民共和国标准GB7704--87《X射线应力测定方法》,能够在短时间内无损地测定材料表面指定点、指定方向的残余应力(用“ + ”、“ - ”号分别表示拉、压应力), 并具备测定主应力大小和方向的功能。在构件承载的情况下测得的是残余应力与载荷应力之代数和,即实际存在的应力。

青海福彩网 适用于各种金属材料经过各种工艺过程(如铸造、锻压、焊接、磨削、车削、喷丸、热处理及各种表面热处理)制成的构件。本系统因功能齐全而适于实验室的试验研究工作,又因轻便灵活而适于现场测量。对于晶粒不粗大、无织构的多晶材料来说,在一束X光照射范围内便有许许多多个晶粒,其中必有许多晶粒,其指定的(h k l)晶面平行于试样表面,晶面法线与表面法线夹角ψ为0;也必有许多晶粒,其(h k l)晶面法线与表面法线成任意的ψ。首先,如图A所示,以试样表面某点(o点)法线为轴

,将一束适当波长的X光和探测器(计数管)对称地指向该点O,并同步地相向扫描改变入射角和反射角。根据布拉格定律,可以找到平行于试样表面的(h k l)晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ。这个由X光束和计数管轴线组成的平面称作扫描平面,衍射晶面的法线必在扫描平面内,并居于X光束和计数管轴线二者角平分线的位置上。让我们记住,此时扫描平面与试样表面垂直,衍射晶面与试样表面平行。


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